GTEM小室構(gòu)成的輻射敏感度（抗擾度）測(cè)試系統(tǒng)為小型電子產(chǎn)品的輻射電磁場(chǎng)干擾敏感性提供有力的測(cè)試依據(jù)。測(cè)試系統(tǒng)構(gòu)成：主要由標(biāo)準(zhǔn)信號(hào)源、功率放大器、場(chǎng)強(qiáng)監(jiān)視器、計(jì)算機(jī)及操控軟件和GTEM 室體組成。由于GTEM小室工作頻率極寬(從直流到3GHz以上)，造價(jià)低(遠(yuǎn)遠(yuǎn)低于電波暗室的造價(jià))。既可以用于電磁兼容輻射靈敏度試驗(yàn)(EMS試驗(yàn)，也稱抗擾度試驗(yàn))，又可用于電磁輻射試驗(yàn)(EMI試驗(yàn))，而且所用儀器配置簡(jiǎn)單、成本便宜，可用于快速和自動(dòng)測(cè)試的特點(diǎn)，所以越來(lái)越受到和國(guó)內(nèi)有關(guān)人士的重視。目前在射頻測(cè)試中GTEM小室對(duì)小體積設(shè)備應(yīng)用測(cè)試結(jié)果的一致性也為很多檢測(cè)機(jī)構(gòu)認(rèn)同，使其成為性能價(jià)格比較佳的測(cè)試方案。